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    • EM RES102德國徠卡 離子減薄儀
      EM RES102德國徠卡 離子減薄儀

      更新時間:2023-07-04

      型號:EM RES102

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      德國徠卡 離子減薄儀 EM RES102適用于SEM和LM樣品的離子束清潔,拋光和襯度增強,可在環境溫度下或LN2制冷情況下使用。SEM樣品臺可以制備尺寸達25mm的樣品。適配器用于夾持商品化生產的帶有3.1mm直徑插針的SEM的樣品座。
    • EM RES102德國徠卡離子減薄儀
      EM RES102德國徠卡離子減薄儀

      更新時間:2023-07-04

      型號:EM RES102

      瀏覽量:1208

      德國徠卡離子減薄儀寬場離子束,離子減薄過程對樣品損傷??;多功能離子減薄儀,可對透射電鏡樣品進行離子減薄,還可對掃描電鏡樣品進行離子束拋光。
    • EM TIC 3X德國徠卡離子研磨儀
      EM TIC 3X德國徠卡離子研磨儀

      更新時間:2023-07-04

      型號:EM TIC 3X

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      德國徠卡離子研磨儀*寬場三離子束,以垂直于樣品側面縱向轟擊樣品,實現高質量無應力“切割”截面,幾乎適用于各種材料。還可對樣品進行離子束拋光處理。
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